超小型多层测厚仪际能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
超小型多层测厚仪产品特性和技术指标
◎ 多种测量方式：
模式一：仅测量基体厚度
模式二：仅测量涂层厚度
模式三：同时测量基体和涂层的厚度
◎ 多种显示模式 1. 数字式显示 2. B扫描显示 3. A扫描显示（仅CMX DL+）
◎ 增益可调节：超低、低、中、高、超高
◎ 增益值*高可到110dB
◎ 自动增益控制（AGC）
◎ 时间增益校正（TCG）
◎ 超小型多层测厚仪探头自动识别，自动调零和温度补偿
◎ 数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
◎ 可存储64个用户参数设置
◎ 超小型多层测厚仪 高速扫查（50次/秒）
◎ 高达140HZ的脉冲重复频率
◎ B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
◎ A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）
◎ 差值测量模式
◎ 超小型多层测厚仪高速扫查功能可用于快速找到壁厚的*小值
◎ 上/下限声光报警功能
◎ *大值、*小值显示
◎ 超小型多层测厚仪可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
性能参数
键 盘：12键按键
测量范围：界面波-底波(P-E)方式： 0.63－508mm 带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm 多层测量(PECT)方式： 0.63－508mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）
穿透涂层测量(E-E)模式： 2.54—102mm（因涂层的不同会有所变化）
仅测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）
显示精度：0.01mm（可方便的进行公制和英制的转换）
声速范围：1250－13995m/s
工作温度：-10℃—60℃
探头类型：1—10MHZ双晶探头
探头接口：LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头
通讯接口：RS232接口（配备USB转RS232接头）
电池工作时间：150小时（3节5号碱性电池）100小时（3节5号镍镉电池）
省电功能：5分钟无任何操作后能自动关机
显 示 屏：62╳45.7mm（240 X 160像素），大数字厚度值显示（厚度值数字高度可达17.78mm）
外观尺寸：63.5X165X31.5MM
重量：382克
外壳：合金外壳
主机质保两年